磁粉探傷儀探傷常用的有X射線探傷儀和同位素γ射線探傷儀，分別稱為X射線探傷儀和γ射線探傷儀。當(dāng)這些射線通過一種物質(zhì)時，物質(zhì)的密度越大，輻射強度越低，也就是說，射線通過物質(zhì)的強度越小。這時，如果用照相底片接收，底片的靈敏度很小；如果用儀器接收，得到的信號很弱。

因此，當(dāng)用輻射照射待測超聲波探傷儀的零部件時，如果內(nèi)部存在氣孔、夾渣等缺陷，則通過輻射缺陷路徑的材料密度要比通過輻射缺陷路徑的材料密度小得多。T缺陷，材料通過缺陷路徑的強度略有降低，即透射率較大，如果用負膜接收，光會被敏化。如果數(shù)量較大，垂直于射線方向的缺陷平面投影可以從底片上反射出來。如果使用其他接收器，垂直于射線方向的缺陷的平面投影和射線的傳輸也可以被儀器反射。

超聲頻率高，傳播線性強，在固體中傳播容易，遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面容易反射，可用于探傷。通常，超聲波探頭與待探測工件表面接觸良好。該探頭能有效地將超聲波傳輸?shù)焦ぜ希⒛芙邮諄碜裕ㄈ毕荩┙缑娴某暡ǚ瓷洹Ｍ瑫r，它可以轉(zhuǎn)換成電信號，然后傳送給儀器進行超聲波探傷儀的處理。缺陷的位置可以根據(jù)超聲波在介質(zhì)中傳播的速度（通常稱為聲速）和時間來確定。

缺陷檢測儀有許多顯示缺陷的方法。是否可以用磁粉顯示。磁粉探傷儀顯示被稱為磁粉檢測。由于其直觀的顯示、簡單的操作和人們使用它的意愿，它是最常用的方法之一。沒有磁粉顯示，通常稱為漏磁檢測。它通常使用感應(yīng)線圈、磁控管、霍爾元件來反映缺陷。探傷機比磁粉探傷更衛(wèi)生，但不如磁粉探傷機直觀。